2024年5月27日，由石嘴山石嘴山蔡司石嘴山扫描电镜主办的先进金属表征分析方法研讨会在位于北京的蔡司显微成像客户服务中心成功举办。

　　本次研讨会针对先进金属前沿研究所急需的相关显微学新技术，及其发展现状进行了介绍与讨论。这些显微学新技术之间的联合应用、如何利用这些技术对材料科学中的前沿问题进行多维度 - 多尺度 - 多参数的综合分析研究，是本次研讨会上广泛被关注与讨论的内容。

　　马克斯-普郎克研究所(MPI)“显微学与衍射”研究组负责人Dr. Stefan Zaefferer、燕山大学张兵老师、北京理工大学熊志平老师、中科院过程工程研究所李少夫老师分别分享了他们的前沿表征技术与最新研究进展。

　　演讲嘉宾：Dr. Stefan Zaefferer

　　报告主题：《电子通道衬度成像技术(ECCI)的理论与应用，钢的氢脆研究》

　　▲马克斯-普朗克研究所(MPI) “显微学与衍射”研究组负责人 Dr. Stefan Zaefferer

　　Dr. Stefan介绍了用于SEM中晶体缺陷表征的cECCI技术，其基于晶格错排导致的背散射电子局部产额差异成像。

　　相较于传统方法，该技术具有下列鲜明特点：

　　✓ SEM的制样手段，TEM的表征效果

　　✓ 支持缺陷的定性定量分析

　　✓ 自由的表征面积，可大可小

　　✓ 支持宏观样品的原位测试

　　✓ 流程简捷，易上手

　　此技术非常契合先进金属表征中迫切需要解决的高效率、高精度缺陷分析难题，引起了与会专家学者们的热烈讨论。